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全自動(dòng)靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析測(cè)試儀可以加t-plots微孔分析，as-plots微孔分析，MP微孔分析等?？梢赃M(jìn)行微孔DR理論、HK狹縫孔理論、SF圓柱形孔理論分析，可加DFT密度函數(shù)理論，包括NLDFT等。

濾膜比表面積及孔徑測(cè)試儀真空系統(tǒng)：中科院真空處理專家專門為HYA系列設(shè)計(jì)的真空系統(tǒng)，全不銹鋼管路和國(guó)際真空電磁閥配套，真空度更高（可達(dá)10-8Torr）,保持高真空度時(shí)間更長(zhǎng)?；九渲谜婵毡?0-2pa(10-4 Torr).P/P0可達(dá)10-7.

比表面及微孔分析儀適用產(chǎn)品多：包括測(cè)量建材、石墨、電池材料、沸石、碳材料、分子篩、二氧化鋁、土壤、有機(jī)化合物等粉體以及各種塊材、片材、高分子纖維等。

高分子纖維比表面積及孔徑分析儀BJH中孔和大孔的孔體積，孔面積對(duì)孔徑的分布，總孔體積等。可以加t-plots微孔分析，as-plots微孔分析，MP微孔分析等。

分子篩比表面積及孔徑測(cè)試儀功能*，包含目前所有的數(shù)據(jù)處理方法：?jiǎn)吸c(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。